Патент 65725 Україна, МПК Н01L 21/66. Спосіб контролю якості котодного контакту діодів Ганна

ІФН ім. В. Є. Лашкарьова НАНУ (2011) Патент 65725 Україна, МПК Н01L 21/66. Спосіб контролю якості котодного контакту діодів Ганна. u 2011 0693.

[img]
Preview
Текст
Download (4MB) | Preview
Тип ресурсу: Патент
Класифікатор: Q Наука > QC Фізика
T Технологія > TK Радіотехніка. Атомна енергетика
Відділи: Фізико-математичний факультет > Кафедра фізики та методики її навчання
Користувач: С.В. Новицький
Дата подачі: 23 Квіт 2014 06:42
Оновлення: 15 Серп 2015 06:15
URI: http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/11009

Actions (login required)

Оглянути опис ресурсу Оглянути опис ресурсу