Zinovchuk, A. V., Tkachenko, A. K. (2011) Measurement of Surface Recombination Velocity and Bulk Lifetime in Si Wafers by the Kinetics of Excess Thermal Emission. Semiconductors, 45 (1). с. 61-65. ISSN 1063-7826
|
Text
Download (209kB) | Перегляд |
| Тип елементу : | Стаття |
|---|---|
| Теми: | Q Наука > QC Фізика |
| Підрозділи: | Фізико-математичний факультет > Кафедра фізики та методики її навчання |
| Користувач, що депонує: | Богдан Свищ |
| Дата внесення: | 30 Бер 2016 13:14 |
| Останні зміни: | 30 Бер 2016 13:14 |
| URI: | http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/20653 |
Actions (login required)
 |
Перегляд елементу |
