<ctx:context-object xsi:schemaLocation="info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx http://www.openurl.info/registry/docs/info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx" timestamp="2015-08-15T05:39:54Z" xmlns:ctx="info:ofi/fmt:xml:xsd:ctx" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XML"><ctx:referent><ctx:identifier>info:oai:eprints.zu.edu.ua:10535</ctx:identifier><ctx:metadata-by-val><ctx:format>info:ofi/fmt:xml:xsd:journal</ctx:format><ctx:metadata><jnl:journal xsi:schemaLocation="info:ofi/fmt:xml:xsd:journal http://www.openurl.info/registry/docs/info:ofi/fmt:xml:xsd:journal" xmlns:jnl="info:ofi/fmt:xml:xsd:journal"><jnl:authors><jnl:author><jnl:aulast>Новицкий</jnl:aulast><jnl:aufirst>С. В.</jnl:aufirst><jnl:au>Новицкий, С. В.</jnl:au></jnl:author></jnl:authors><jnl:date>October 2012</jnl:date><jnl:atitle>Методологические аспекты измерения удельного контактного сопротивления TLM методом с радиальной геометрией контактов</jnl:atitle><jnl:title>Сборник научных трудов. [V Международная науч. конф. «Материалы и структуры современной электроники»], (Минск, Беларусь, 10—11 октября, 2012 г.)</jnl:title><jnl:pages>60-62</jnl:pages><jnl:genre>article</jnl:genre></jnl:journal></ctx:metadata></ctx:metadata-by-val></ctx:referent></ctx:context-object>