  @prefix epid: <http://eprints.zu.edu.ua/id/> .
  @prefix void: <http://rdfs.org/ns/void#> .
  @prefix xsd: <http://www.w3.org/2001/XMLSchema#> .
  @prefix cc: <http://creativecommons.org/ns#> .
  @prefix ep: <http://eprints.org/ontology/> .
  @prefix eprel: <http://eprints.org/relation/> .
  @prefix dc: <http://purl.org/dc/elements/1.1/> .
  @prefix bibo: <http://purl.org/ontology/bibo/> .
  @prefix geo: <http://www.w3.org/2003/01/geo/wgs84_pos#> .
  @prefix owl: <http://www.w3.org/2002/07/owl#> .
  @prefix event: <http://purl.org/NET/c4dm/event.owl#> .
  @prefix skos: <http://www.w3.org/2004/02/skos/core#> .
  @prefix foaf: <http://xmlns.com/foaf/0.1/> .
  @prefix rdfs: <http://www.w3.org/2000/01/rdf-schema#> .
  @prefix rdf: <http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#> .
  @prefix dct: <http://purl.org/dc/terms/> .

<>
	foaf:primaryTopic <http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/10538>;
	rdfs:comment "The repository administrator has not yet configured an RDF license."^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/10538/1/ICPS-contribution.pdf>
	rdfs:label "ICPS-contribution.pdf"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/10538/2/lightbox.jpg>
	rdfs:label "lightbox.jpg"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/10538/3/preview.jpg>
	rdfs:label "preview.jpg"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/10538/4/medium.jpg>
	rdfs:label "medium.jpg"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/10538/5/small.jpg>
	rdfs:label "small.jpg"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/10538/>
	dc:format "text/html";
	dc:title "HTML Summary of #10538 \n\nA new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density\n\n";
	foaf:primaryTopic <http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/10538> .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>
	dct:hasPart <http://eprints.zu.edu.ua/10538/1/ICPS-contribution.pdf>;
	ep:hasFile <http://eprints.zu.edu.ua/10538/1/ICPS-contribution.pdf>;
	rdf:type bibo:Document,
		ep:Document;
	rdfs:label "A new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density (Text)"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106795>
	dct:hasPart <http://eprints.zu.edu.ua/10538/2/lightbox.jpg>;
	ep:hasFile <http://eprints.zu.edu.ua/10538/2/lightbox.jpg>;
	eprel:isVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:isVolatileVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:islightboxThumbnailVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	rdf:type ep:Document;
	rdfs:label "A new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density (Other)"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106796>
	dct:hasPart <http://eprints.zu.edu.ua/10538/3/preview.jpg>;
	ep:hasFile <http://eprints.zu.edu.ua/10538/3/preview.jpg>;
	eprel:isVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:isVolatileVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:ispreviewThumbnailVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	rdf:type ep:Document;
	rdfs:label "A new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density (Other)"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106797>
	dct:hasPart <http://eprints.zu.edu.ua/10538/4/medium.jpg>;
	ep:hasFile <http://eprints.zu.edu.ua/10538/4/medium.jpg>;
	eprel:isVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:isVolatileVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:ismediumThumbnailVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	rdf:type ep:Document;
	rdfs:label "A new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density (Other)"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106798>
	dct:hasPart <http://eprints.zu.edu.ua/10538/5/small.jpg>;
	ep:hasFile <http://eprints.zu.edu.ua/10538/5/small.jpg>;
	eprel:isVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:isVolatileVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	eprel:issmallThumbnailVersionOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>;
	rdf:type ep:Document;
	rdfs:label "A new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density (Other)"^^xsd:string .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/10538#authors>
	rdf:_1 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-412563a4c23b7128183c3f774e89fdaa>;
	rdf:_2 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-0d92c11826bb72bbe335e7eddc1694d1>;
	rdf:_3 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-0ebed53cec5e1d57cd0f85b9f8831305>;
	rdf:_4 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-ab88d1777d2d37d7a309c6dcc57e11fd>;
	rdf:_5 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-35170b7413b71377312a3ae9dead9431>;
	rdf:_6 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-b2f71fc7da5a87affbe57c437889ebaa>;
	rdf:_7 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-13ad8f1cd44f5d7f5402692c9abd5864>;
	rdf:_8 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-40c931da1346e9f8359cadbb82283863>;
	rdf:_9 <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-99a87e9c4577e5f2032e9784621dcc23> .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/10538>
	bibo:abstract "About new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density "^^xsd:string;
	bibo:authorList <http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/10538#authors>;
	bibo:status <http://purl.org/ontology/bibo/status/peerReviewed>,
		<http://purl.org/ontology/bibo/status/published>;
	dct:creator <http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-0d92c11826bb72bbe335e7eddc1694d1>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-0ebed53cec5e1d57cd0f85b9f8831305>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-13ad8f1cd44f5d7f5402692c9abd5864>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-40c931da1346e9f8359cadbb82283863>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-99a87e9c4577e5f2032e9784621dcc23>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-35170b7413b71377312a3ae9dead9431>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-412563a4c23b7128183c3f774e89fdaa>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-ab88d1777d2d37d7a309c6dcc57e11fd>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-b2f71fc7da5a87affbe57c437889ebaa>;
	dct:date "2012-07";
	dct:isPartOf <http://eprints.zu.edu.ua/id/repository>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/publication/ext-55bea5ee3db4c719f7e68912b554c9ae>;
	dct:publisher <http://eprints.zu.edu.ua/id/org/ext-18265107d07bac7c68b9184a9e9a86fc>;
	dct:subject <http://eprints.zu.edu.ua/id/subject/QC>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/subject/TK>;
	dct:title "A new mechanism of contact resistance formation in ohmic contacts to  semiconductors with high dislocation density"^^xsd:string;
	ep:hasDocument <http://eprints.zu.edu.ua/id/document/34759>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106795>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106796>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106797>,
		<http://eprints.zu.edu.ua/id/document/106798>;
	rdf:type bibo:AcademicArticle,
		bibo:Article,
		ep:ArticleEPrint,
		ep:EPrint;
	rdfs:seeAlso <http://eprints.zu.edu.ua/10538/> .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/subject/QC>
	rdf:type skos:Concept;
	skos:prefLabel "QC Physics"@en,
		"QC Фізика"@uk .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/subject/TK>
	rdf:type skos:Concept;
	skos:prefLabel "TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering"@en,
		"TK Радіотехніка. Атомна енергетика"@uk .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/org/ext-18265107d07bac7c68b9184a9e9a86fc>
	foaf:name "Zurich, Switzerland"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Organization .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-0d92c11826bb72bbe335e7eddc1694d1>
	foaf:familyName "Belyaev"^^xsd:string;
	foaf:givenName "А. Е."^^xsd:string;
	foaf:name "А. Е. Belyaev"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-0ebed53cec5e1d57cd0f85b9f8831305>
	foaf:familyName "Boltovets"^^xsd:string;
	foaf:givenName "N. S."^^xsd:string;
	foaf:name "N. S. Boltovets"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-13ad8f1cd44f5d7f5402692c9abd5864>
	foaf:familyName "Sheremet"^^xsd:string;
	foaf:givenName "V. N."^^xsd:string;
	foaf:name "V. N. Sheremet"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-40c931da1346e9f8359cadbb82283863>
	foaf:familyName "Lі"^^xsd:string;
	foaf:givenName "J."^^xsd:string;
	foaf:name "J. Lі"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-99a87e9c4577e5f2032e9784621dcc23>
	foaf:familyName "Vіtusevіch"^^xsd:string;
	foaf:givenName "S. А."^^xsd:string;
	foaf:name "S. А. Vіtusevіch"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-35170b7413b71377312a3ae9dead9431>
	foaf:familyName "Kudryк"^^xsd:string;
	foaf:givenName "Y. Y."^^xsd:string;
	foaf:name "Y. Y. Kudryк"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-412563a4c23b7128183c3f774e89fdaa>
	foaf:familyName "Sachenкo"^^xsd:string;
	foaf:givenName "А. V."^^xsd:string;
	foaf:name "А. V. Sachenкo"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-ab88d1777d2d37d7a309c6dcc57e11fd>
	foaf:familyName "Konaкova"^^xsd:string;
	foaf:givenName "R. V."^^xsd:string;
	foaf:name "R. V. Konaкova"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/person/ext-b2f71fc7da5a87affbe57c437889ebaa>
	foaf:familyName "Novytsкyі"^^xsd:string;
	foaf:givenName "S. V."^^xsd:string;
	foaf:name "S. V. Novytsкyі"^^xsd:string;
	rdf:type foaf:Person .

<http://eprints.zu.edu.ua/id/publication/ext-55bea5ee3db4c719f7e68912b554c9ae>
	foaf:name "Materials of a conference [31st International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS 2012)], (Zurich, Switzerland, 29 July — 3 August, 2012 y.)"^^xsd:string;
	rdf:type bibo:Collection .

