eprintid: 18889
rev_number: 15
eprint_status: archive
userid: 1567
dir: disk0/00/01/88/89
datestamp: 2015-10-23 16:54:02
lastmod: 2015-10-23 16:54:02
status_changed: 2015-10-23 16:54:02
type: article
metadata_visibility: show
title: Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів
language: ukraine
abstract: Магістерська робота
creators_name: Сай, Павло
creators_name: Ткаченко, О. К.
ispublished: pub
subjects: QC
divisions: sch_phy
full_text_status: public
date: 2015
date_type: published
publication: Науковий пошук молодих дослідників
refereed: TRUE
citation:   Сай, Павло, Ткаченко, О. К.  (2015) Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів.  Науковий пошук молодих дослідників.       
document_url: http://eprints.zu.edu.ua/18889/1/%D0%BC%D0%B0%D0%B3%D1%96%D1%81%D1%82%D0%B5%D1%80%D1%81%D1%8C%D0%BA%D0%B0%20%D0%A1%D0%B0%D0%B9.pdf