Патент 65725 Україна, МПК Н01L 21/66. Спосіб контролю якості котодного контакту діодів Ганна

ІФН ім. В. Є. Лашкарьова НАНУ (2011) Патент 65725 Україна, МПК Н01L 21/66. Спосіб контролю якості котодного контакту діодів Ганна. u 2011 0693.

[img]
Перегляд
Text
Download (4MB) | Перегляд
Тип елементу : Патент
Теми: Q Наука > QC Фізика
T Технологія > TK Радіотехніка. Атомна енергетика
Підрозділи: Фізико-математичний факультет > Кафедра фізики та методики її навчання
Користувач, що депонує: С.В. Новицький
Дата внесення: 23 Квіт 2014 06:42
Останні зміни: 15 Серп 2015 06:15
URI: http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/11009

Actions (login required)

Перегляд елементу Перегляд елементу