Some methodological aspects of studying ohmic contacts to n-InP

Novytsкyі, S. V. (2013) Some methodological aspects of studying ohmic contacts to n-InP. materials of a conf. [XIV International conf. «Physics and technology of thin films and nanosystems» (ICPTTFN-XIV)], (Ivano-Frankivsk, Ukraine, 20—25 may 2013 y.). с. 437.

[img]
Перегляд
Text
Download (18kB) | Перегляд

Опис

About some methodological aspects of studying ohmic contacts to n-InP

Тип елементу : Стаття
Теми: Q Наука > QC Фізика
T Технологія > TK Радіотехніка. Атомна енергетика
Підрозділи: Фізико-математичний факультет > Кафедра фізики та методики її навчання
Користувач, що депонує: С.В. Новицький
Дата внесення: 18 Квіт 2014 06:28
Останні зміни: 02 Лют 2016 22:57
URI: http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/11039

Actions (login required)

Перегляд елементу Перегляд елементу