Патент 65725 Україна, МПК Н01L 21/66. Спосіб контролю якості котодного контакту діодів Ганна

ІФН ім. В. Є. Лашкарьова НАНУ (2011) Патент 65725 Україна, МПК Н01L 21/66. Спосіб контролю якості котодного контакту діодів Ганна. u 2011 0693.

[img]
Preview
Text
Download (4MB) | Preview
Item Type: Patent
Subjects: Q Science > QC Physics
T Technology > TK Electrical engineering. Electronics Nuclear engineering
Divisions: Faculty of Physics and Mathematics > Department of Physics and Labor Protection
Depositing User: С.В. Новицький
Date Deposited: 23 Apr 2014 06:42
Last Modified: 15 Aug 2015 06:15
URI: http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/11009

Actions (login required)

View Item View Item