Statistical method of finding quality indicators distribution of surfaces treated in thickness of gas-thermal coatings in various depths

Щехорський, А. Й. (2014) Statistical method of finding quality indicators distribution of surfaces treated in thickness of gas-thermal coatings in various depths. ВІСНИК. SCIENTIFIC OF THE TERNOPIL NATIONALTECHNICAL UNIVERSITY (4(76)). с. 135-148. ISSN 1727-7108

[img]
Перегляд
Text
Download (7MB) | Перегляд
Офіційний URL: http://library.tntu.edu.ua/visnyk/visnyk-tntu/

Опис

Проаналізовано статистичну залежність показників якості (на прикладі параметрів шорсткості та мікротвердості) оброблених поверхонь деталей з порошковими газотермічними покриттями системи Ni-Cr-B-Si у діапазоні товщин 0,6... 2,4 мм, нанесеними газотермічним напилюванням, від глибини розташування цих поверхонь (від величини прийнятого припуску). Результати дослідження є основою для визначення припуску на обробку покриттів за допомогою ймовірнісно- статистичного методу, вирішують проблему визначення припусків на оброблення газотермічних порошкових покриттів системи Ni-Cr-B-Si та дозволяють під час механічного оброблення забезпечити найвищі показники якості обробленої поверхні.

Тип елементу : Стаття
Ключові слова: ймовірнісно-статистичний метод, модель регресії, метод Кочрена-Оркатта, крива апроксимації, глибина попередньої обробки під покриття, газотермічне покриття, газополуменеве покриття, напилене покриття, напилювання, товщина покриття, шар покриття, прошарок, глибина розташування обробленої поверхні у товщі покриття, припуск, механічна обробка.
Теми: Q Наука > QA Математика > QA75 Електронні комп'ютери. Інформатика
Q Наука > QA Математика > QA76 Комп'ютерне програмне забезпечення
Q Наука > QD Хімія
Підрозділи: Фізико-математичний факультет > Кафедра комп’ютерних наук та інформаційних технологій
Користувач, що депонує: Марія Олександрівна Ігнатюк
Дата внесення: 07 Трав 2015 12:14
Останні зміни: 22 Трав 2015 15:33
URI: http://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/17206

Actions (login required)

Перегляд елементу Перегляд елементу