Zhytomyr State University Library

Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів

Сай Павло and Ткаченко О. К. (2015) Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів. Науковий пошук молодих дослідників.

[thumbnail of магістерська Сай.pdf]
Preview
Text
магістерська Сай.pdf

Download (2MB) | Preview

Abstract

Магістерська робота

Item Type: Article
Subjects: Q Science > QC Physics
Divisions: Faculty of Physics and Mathematics > Department of Physics and Methods of Its Teaching
Depositing User: Богдан Володимирович Свищ
Date Deposited: 23 Oct 2015 19:54
Last Modified: 23 Oct 2015 19:54
URI: https://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/18889
ДСТУ 8302:2015: Сай Павло and Ткаченко О. К. Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів. Науковий пошук молодих дослідників. 2015.

Actions (login required)

View Item
View Item