Електронна бібліотека Житомирського державного університету

Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів

Сай Павло, Ткаченко О. К. (2015) Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів. Науковий пошук молодих дослідників..

[thumbnail of магістерська Сай.pdf]
Preview
Текст
магістерська Сай.pdf

Завантажити (2MB) | Preview

Анотація

Магістерська робота

Тип ресурсу: Стаття
Класифікатор: Q Наука > QC Фізика
Відділи: Фізико-математичний факультет > Кафедра фізики та методики її навчання
Користувач: Богдан Володимирович Свищ
Дата подачі: 23 Жовт 2015 16:54
Оновлення: 23 Жовт 2015 16:54
URI: https://eprints.zu.edu.ua/id/eprint/18889
ДСТУ 8302:2015: Сай Павло, Ткаченко О. К. Стійкість омічних контактів до напівпровідникових епітаксійних плівок n-InN під дією деградаційних факторів. Науковий пошук молодих дослідників. 2015..

Дії ​​(потрібно ввійти)

Оглянути опис ресурсу
Оглянути опис ресурсу