Ресурси де є Автор Tkachenko A. K.
![[up]](/style/images/multi_up.png)
Up a levelГрупувати за: Тип ресурсу | Не групувати
Перейти до: Стаття
Кількість ресурсів: 1.
Стаття
Zinovchuk A. V., Tkachenko A. K. (2011) Measurement of Surface Recombination Velocity and Bulk Lifetime in Si Wafers by the Kinetics of Excess Thermal Emission. Semiconductors. Т. 45, № 1. С. 61–65. ISSN 1063-7826.